芯片AOI檢測設(shè)備主要用于實現(xiàn)半導(dǎo)體芯片的外觀缺陷檢測,AOI視覺系統(tǒng)識別每款芯片規(guī)格,便于人工防呆且針對不同芯片的IC進行外觀缺陷檢測及測量。
特性優(yōu)勢:
高精度視覺定位,保證芯片檢測位置的精度
可調(diào)節(jié)成像系統(tǒng),兼容不同類型的芯片檢測
自研軟件算法,功能齊全,滿足不同客戶需求
物料追蹤,對接MES系統(tǒng),進行生產(chǎn)管控和分析
技術(shù)參數(shù):
重復(fù)定位精度:3um
UPH:2000pcs/h(與產(chǎn)品工藝參數(shù)和材料有關(guān))
測高模組可實現(xiàn):光斑大小Φ25um,測量精度5um,量程±1.3um
AOI模組:檢測精度:±1.5um,最大FOV:6mm*6mm
兼容24種不同類型的IC檢測
產(chǎn)品應(yīng)用:
半導(dǎo)體領(lǐng)域芯片AOI
模組芯片等產(chǎn)品檢測工藝
適合量產(chǎn)